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    光柵式測微儀日本三豐測微頭細長型

    光柵式測微儀日本三豐測微頭細長型 542系列LGK ● 沿襲了LGF的抗振性和抗沖擊性的細長型,橫截面只有LGF-110L-B的1/5。 ● 每種型號的分辨力可以在0.1μm, 0.5μm或1μm之間選擇。 ● 滑動的耐久性可至少使用1500萬次以上(三豐測試)。 ● 耐沖擊性:100G/11ms (IEC 60068-2-27)。

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